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設備一覧 ICP−AES、イオンクロマトグラフ、、ガスクロマトグラフ、

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〒359-1167 埼玉県所沢市林 2-70-22

主要設備一覧Equipments


T.定量分析装置


(1)ICP-AESInductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometer
  [誘導結合プラズマ発光分析装置]

高温のアルゴンプラズマ中に試料溶液を噴霧し、原子化された原子が基底状態に戻る時に発する固有波長の光を検出し定量・同定を行う。
検出限界は元素により異なるが、概ねppbオーダーで各種金属元素の定量・定性が可能。

(2)ICIon Chromatograph) [イオンクロマトグラフ] 


カチオン(陽イオン)及びアニオン(陰イオン)等、イオン性物質の定量が可能である。

少量の試料で複数のイオンを同時に、迅速かつ高感度の測定ができる。
検出限界は、ppbオーダー。

(3)GCGas Chromatograph) [ガスクロマトグラフ]

試料溶液を加熱、ガス化したのちキャリアガスと共にカラムに送り、カラム内を通過する際に成分ごとに分離し各成分の定量・定性を行う。
分析する試料の性質(酸性度・塩基性度 他)に応じてカラムを変更し最適な分析条件を設定することが出来るため、有機物の含量測定や同定に有効な分析機器である。
但し、ガス化しない物質は測定出来ないほか、熱で変性する物質の測定には不向きである。

(4)HPLCHigh Performance Liquid Chromatograph  [高速液体クロマトグラフ]

原理はGCと同様だが、試料をカラムに送る媒体(移動相)にガスの代わりに液体を用いる点が異なる。
ガス化しない物質でも溶解すれば測定が可能で、熱に弱い物質の分析にも適している。

(5)KF(カールフィッシャー)水分計

KF試薬を用いた水分計。
検出感度が非常に高く、数μgと ごく微量の水分も定量出来る。
加熱炉もあるため、高融点物質を溶融させ含有する水分を測定することが可能。

(6)電位差滴定装置

試薬の滴下により変化する、試料内の電位差を検知・計測する。



U.定性分析装置


(1)GC-MSGas Chromatograph Mass Spectrometer System   [ガスクロマトグラフ質量分析装置]

試料溶液をカラムに送り、成分ごとに分離する迄の工程はGCと同じ。 分離した成分を質量分析器に注入し、各成分の質量(分子量)を計測する。 従ってGC同様、ガス化しない物質、熱変性物質には不向きである。

得られた質量スペクトルから物質の同定が出来るほか、強度から定量も可能である。

(2)FT-IRFourier Transform Infrared Spectrophotometer [フーリエ変換赤外分光光度計]

物質により赤外線の吸収強度が異なる性質を利用して、赤外線の波長ごとの吸収強度を測定し、その吸収パターン(チャート)から物質の同定を、未知物質の場合は官能基などの情報から物質の構造推定が可能。 吸収強度から定量も出来る。
微量の試料で高感度の測定が可能な機器である。


V.その他(物性測定等)


(1)DSCDifferential Scanning Calorimeter
  [示差走査熱量計]

試料の熱的挙動(吸熱・発熱=熱の出入り)を電気信号として検出する。
ピーク温度測定の他、積分計算により熱量の測定も可能。
昇降温速度の最適化などにより少量で高感度の測定が出来る。
熱挙動の比較から物質の同定も可能である。

(2)Viscosity Meter [スパイラル回転粘度計]

試料が螺旋状の隙間を通過する時に生じる回転抵抗を測定。高粘度試料対応型。

(3)Leometer [レオメーター]

レオメータとは、高性能の回転式粘度計である。
流動変形に関する特性(rheology)、特に粘弾性を計測する装置。  

(3)Micro focus X-ray inspection system 
 [X線検査装置]

X線を用いた非破壊検査装置。
実装基板のはんだ付け部の透過検査、特にBGAや部品のボイド゙やはんだ付け状態等の検査に用いる。
BGAや部品のはんだ状態などの鮮明なX線画像が得られる。


バナースペース 鉛フリー半田

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