不良解析　：実装基板の不具合解析、事故原因の究明

貴社に代わって不良を解析します。

�@不良解析は実装現場の生産性を高めます。
�A不良解析は品質を向上させます。
�B不良解析は新製品の開発に役立ちます　

・不良解析が出来ずに困ったことはありませんか？
・不具合の原因の回答が出来ずに信用を無くしていませんか？
・生産現場での不具合、原因究明に困ったら・・・
市場で不具合が発生、根本原因の調査が必要だが、原因究明が出来ない。

そんな時は弊社までご相談ください！

テリーサ研究所は秘密を厳守します。


弊社において市場で発生した実装基板の不具合解析、事故原因等の調査・解析を致します。
過去にＰＬ法裁判の案件についても取扱い実績がございます。

弊社では過去長年にわたって培った実装基板の不良解析のノウハウから、他社にはない視点から実装基板の不具合の解析を行っており、多方面から高い評価を頂いております。

このノウハウの一部を不良解析の書籍として発行しておりますので、ご参考にして頂ければ幸いです。
またブログコーナーで絶版になりました旧書籍「マイクロソルダリング不良解析Q&A」の内容を一部公開しております。

不良の解析についてはお客様のご相談に応じますので、お問い合わせフォームまたは　お電話にて、お気軽にご相談ください。

解析事例

書籍

設備一覧

分析装置などテリーサ研究所の所有設備

１．ICP-Varian７２０−ES　　　　　　
　　合金及び表面汚染物質の微量分析

２．イオンクロマトグラフィ-　　　 　 
　　水に溶けているイオン物質の分析

３．ガスクロマトグラフィ-　
　 有機物質の定量分析（加熱による分析）

４．ガスクロマトグラフィ-質量分析計   
　　有機物質の定性分析（加熱による分析）

５．液体クロマトグラフィ-　　　　　　
有機物質の分析（加熱を伴わない分析）

６．フーリエ変換赤外分光分析　　 　
　 有機物質の分析（化学物質の同定）

７．カールフィッシャー水分計
　 薬品中の水分量測定　

８．レオメーター
　　超精密粘度測定機

９．粘度計（マルコム製）
　　ソルダーペースト（製品）の粘度測定

１０．X線透過試験機（東芝製）
　 　はんだ付け部の内部欠陥の解析

１１．電位差滴定装置　　　　　　　　
　 　JIS指定の塩素・臭素分析

１２．レーザーマイクロスコープ(ｷｰｴﾝｽ)　
　　　高倍率下の表面粗さ・体積測定

１３．実体及顕微鏡（ｵﾘﾝﾊﾟｽ, ｶｰﾙﾂｧｲｽ）   　　　　外観観察
１４．金属顕微鏡　（ニコン）
　　 外観観察

１５．高倍率デジタル観察装置(ｷｰｴﾝｽ)　 
  　　CCDカメラ内蔵

１６．リフローシミュレーター(山陽精工）
　　　ソルダーペーストの加熱溶融までの
　　　炉内観察　

１７．高速遠心分離装置　　　　　　　 
　　　分析予備処理

１８．精密切断装置　　　　　　　　　　　
　　　顕微鏡試料作製

１９．精密研磨機
　 　 顕微鏡試料作製

２０．ソルダーペースト印刷機　　　 　 　
　　　テスト用（ソニー製）

２１．ＩＲリフロー炉　　　　　　　　 　
　　　６ゾーン（アントム製）　

２２．ＡＩＲリフロー炉　　　　　　 　　
　　　８ゾーン　　　　　　　　　　　　　　　

２３．撹拌装置　　　　　　 　 　 　 　　
　　　フラックス・粉末混練

２４．示差熱分析（DSC）　　　　　　　
　　　 融点測定　 ）